[发明专利]LED矩阵显示器的检查方法和设备有效
| 申请号： | 200380102877.1 | 申请日： | 2003-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN1711479A | 公开（公告）日： | 2005-12-21 |
| 发明（设计）人： | A·吉拉多;M·T·约翰逊 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;王忠忠 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种检测有源矩阵显示像素单元(20；20’)中发光元件的方法，该有源矩阵显示像素单元还包括可与驱动元件(24)和发光元件(25)的第一电极(29)相连的数据线(21)。数据线(21)与发光元件(25)的阳极(29)相连，检测电压(V1)将发光元件(25)反向偏置，并检测流过发光元件(25)的任何漏电流(IL)。 | ||
| 搜索关键词： | led 矩阵 显示器 检查 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种用于检测有源矩阵显示像素单元(20；20’)中发光元件(25)的方法，还包括可与驱动元件(24)和发光元件(25)的第一电极(29)相连的数据线(21)，所述方法包括：在重复的输出周期期间，将数据线(21)与驱动元件(24)相连，并在数据线(21)上提供驱动信号(V)以便使发光元件(25)产生光，并且在两个输出周期之间的检测周期期间，将数据线(21)与发光元件(25)的第一电极(29)相连，在数据线(21)上提供检测电压(V1)以便反向偏置发光元件(25)，并检测流过发光元件(25)的任何漏电流(IL)。
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