[发明专利]显色测定装置有效

专利信息
申请号: 200380103609.1 申请日: 2003-10-30
公开(公告)号: CN1714289A 公开(公告)日: 2005-12-28
发明(设计)人: 山内一德 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N21/27
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 扫描机构6使光学磁头5相对于载装盘2在扫描方向上移动;装载在光学磁头5上的发光二极管3A、3B,向装载在载装盘2的免疫色谱测试片的2个显色区域TP3、TP3,沿着各自的扫描方向照射测定光;通过装载在光学磁头5上的光电二极管4A、4B,接收与免疫测试片的显色线相互垂直、从2个显色区域TP3、TP3反射的反射光,同时测定免疫色谱测试片的2个显色区域TP3、TP3上形成的显色线的显色度。
搜索关键词: 显色 测定 装置
【主权项】:
1.一种向测试片的显色区域中形成的显色线照射测定光,根据其反射光的受光测定所述显色线的显色度的显色测定装置,其特征在于具备:用于装载相互并列配制有至少2个独立的显色区域的特定测试片的一个载装盘;向所述特定测试片的各显色区域分别照射测定光的多个照射光学系统;接收来自各显色区域的反射光的多个受光光学系统;装载有所述多个照射光学系统和受光光学系统的光学磁头;在横切显色线的扫描方向上,使所述载装盘和光学磁头相对移动的扫描机构。
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