[发明专利]测试一个和多个导体组件的适配器无效
| 申请号： | 200380103923.X | 申请日： | 2003-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN1714294A | 公开（公告）日： | 2005-12-28 |
| 发明（设计）人： | 曼弗雷德·普罗科普;维克托·罗曼诺夫 | 申请（专利权）人： | 德商·Atg测试系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 德国威尔*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试导体组件特别是测试芯片载体的适配器。这种导体组件的一侧面具有接触元件，接触元件的排列密度不高，最小间距为0.5mm。适配器具有一个或多个接触区，各接触区具有一组接触元件，其中利用接触区的接触元件，可以在排列不很密集的接触点接触一个导体组件。接触区的每个接触元件电连接该接触区或另一接触区的接触元件，使得两导体组件的导体路径彼此电连接，并且可以同时对其进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 一个 导体 组件 适配器 | ||
【主权项】：
1、一种适配器，用于在指状测试器中对具有几条导体路径的一个或多个导体组件(2)的测试，其中，导体组件具有一侧面(11)，侧面(11)上排列有与最近的相邻触点相隔至少预定间距的触点(16)，使得可以通过适配器接触导体组件的所述侧面，其特征是，适配器(1)具有至少一个带一组接触元件(6、7；26、27)的接触区(17、18)，接触区(17、18)的这组接触元件(6、7；26、27)以对应导体组件的触点(16)的图形排列，以及接触元件(6、26)以这样的方式电连接其它接触元件(7；27)，即导体组件的导体路径合并成几个测试网，这些测试网在适配器不接触的侧面上具有至少一个触点。
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