[发明专利]检测磁数据存储设备中热弛豫的可能开始的方法和装置有效
| 申请号： | 200380104337.7 | 申请日： | 2003-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN1717744A | 公开（公告）日： | 2006-01-04 |
| 发明（设计）人： | G·N·菲利浦斯;H·M·B·博伊维 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/16 | 分类号： | G11C11/16;G11B5/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;王忠忠 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 具有比实际数据存储使用的最小尺寸小的磁容积范围的参考磁元件或磁位写入数据存储装置或在其中构图。所述参考元件或位具有这样的尺寸，即使其磁化在比存储元件或位的最小期望弛豫时间更短的时间内驰豫的尺寸。参考元件或位的磁化探测允许在存储元件或位的重写(再磁化)为必须的信号之前，检测存储元件或位中磁化驰豫的可能开始。可在列、栏或区段上构造这种方案。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 数据 存储 设备 中热弛豫 可能 开始 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.磁存储器装置，其包括用于数据存储的磁存储元件阵列，所述存储器还配有用于模拟所述磁存储元件的热弛豫开始的磁弛豫模拟器。
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