[发明专利]多状态存储器的智能检验

摘要

本发明提出一种“智能检验”技术，由此通过使用对于基于依序状态检验实施的多状态检验范围的基于检验结果的动态调整来编程多状态存储器。此项技术可在维持依序检验的多状态存储器实施内的可靠操作的同时，提高多状态写入速度。其通过提供“智能”方法最小化写入序列的每个编程/检验/锁定步骤的依序检验操作的数量从而实现上述目的。在所选择存储元件的编程/检验循环序列期间多状态存储器的写入序列的示范性实施例中，在进程开始时，在检测阶段中，仅对于所选择存储元件正被编程到其中的多状态范围的最低状态进行检测。一旦一或多个所选择元件达到第一存储状态，则将多状态序列中的下一个状态加入到检验进程中。所述下一个状态可在序列中最快的元件达到其前一个状态时，立即加入，或者也可以在若干编程循环的延迟之后加入。将状态加入到检验阶段中正被检验集合中的加入过程继续依序进行经过多状态集合的剩余部分，直到最高状态已被加入。此外，当所有局限于这些水平的所选择存储元件都被成功地检验为符合那些目标值，且当其被锁定无法进一步被编程时，可将较低状态从所述检验集合中移除。

主权项

1.一种操作一具有复数个多状态存储元件的非易失存储器的方法，所述方法包含：将一第一编程脉冲施加到所述存储元件中所选择的若干存储元件；检验所述多状态水平的一第一子集的所述所选择存储元件上所述第一编程脉冲的结果；基于所述检验结果形成所述多状态水平的一第二子集，其包含判定是否将未包括于所述第一子集中的所述多状态水平中的一个包括于所述第二子集中；在所述检验之后，将一第二编程脉冲施加到一或多个所述所选择存储元件；和检验所述多状态水平的所述第二子集的所述一或多个所选择存储元件上的所述第二编程脉冲的结果。