[发明专利]工件检测方法有效
| 申请号： | 200380105239.5 | 申请日： | 2003-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN1720425A | 公开（公告）日： | 2006-01-11 |
| 发明（设计）人： | 杰弗瑞·姆法兰 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01B5/008 | 分类号： | G01B5/008;G01B7/008 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 顾红霞;陆弋 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种使用安装在一个坐标测量仪上的非接触测量来检测人工制品的方法。人工制品首先由接触式探针(28)来测量，然后由非接触式探针(32)来测量。生成一个误差分布图或者误差函数(34)，该误差分布图或误差函数(34)对应于使用人工品传感探针在接触模式与非接触模式下进行测量的差异。该误差分布图或者误差函数可以用来校准探针。或者，可以用非接触式探针(36)来测量后续人工制品，以及用误差分布图或者误差函数来校正测量结果(38)。 | ||
| 搜索关键词： | 工件 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种使用坐标测量仪检测人工制品的方法，其中，人工品传感探针移动到与每个人工制品构成位置探测关系并获取一位置读数，该方法包括如下的可以按任意合适顺序排列的步骤：用接触模式下的人工品传感探针测量人工制品；用非接触模式下的人工品传感探针扫描所述的人工制品；生成一个误差分布图或者误差函数，该误差分布图或误差函数对应于使用接触模式下的人工品传感探针和使用非接触模式下的人工品传感探针得到的测量结果的差异；以及使用该误差分布图或误差函数来校正使用非接触模式下的人工品传感探针进行的后续测量。
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