[发明专利]光检测装置

摘要

本发明的目的是提供能够确保S/N比和速度两者的光检测装置。在光检测装置(1)中，在光检测部(10)中M行(K×N)列地配列(K×M×N)个光敏二极管(PD_k，m，n)，对于各行的(K×N)个光敏二极管(PD_k，m，n(k＝1～K，n＝1～N))中的各个，在每个时间T中实施处理(积蓄电荷、CDS、滤波、A/D变换)。积分电路(20_m，n)中的电荷积蓄动作、CDS电路(30_m，n)中的CDS动作、滤波器电路(40_m，n)中的滤波动作和A/D变换电路(50_m，n)中的A/D变换动作中的各个动作在每个时间(N×T)中实施处理。

主权项

1.一种光检测装置，其特征在于，具有：分别产生与入射光强度相应的量的电荷的(K×M×N)个光敏二极管PDk，m，n(其中，K是2以上的整数，k是1以上K以下的各整数，M是1以上的整数，m是1以上M以下的各整数，N是2以上的整数，n是1以上N以下的各整数)；与在所述(K×M×N)个光敏二极管PDk，m，n中的每K个光敏二极管PDk，m，n(k＝1～K)对应设置1个，顺次输入在这些K个光敏二极管PDk，m，n(k＝1～K)的各个中产生的电荷并存储起来，输出与该存储的电荷量相应的电压值的(M×N)个积分电路；和与所述(M×N)个积分电路中的各个对应设置1个，减少在从各个对应的积分电路输出的电压值中包含的热噪声成分，输出减少该热噪声成分后的电压值的(M×N)个滤波器电路。