[发明专利]薄膜晶体管,用于制造薄膜晶体管的方法和具有该晶体管的电子设备无效

专利信息
申请号: 200380107533.X 申请日: 2003-12-11
公开(公告)号: CN1732559A 公开(公告)日: 2006-02-08
发明(设计)人: C·格拉斯;S·D·布罗特尔顿 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/786
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;梁永
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种薄膜晶体管(100)安装在衬底(102)上,其由半导体层(120)覆盖。该半导体层(120)具有第一掺杂区域(121)和第二掺杂区域(122)以及它们之间的未掺杂区域(123)。此外,该半导体层(120)具有第一另外的掺杂区域(125)和第二另外的掺杂区域(126),其形成了薄膜晶体管(100)的源极和漏极,并且相比于第一掺杂区域(121)和第二掺杂区域(122),其是较为重度掺杂的。半导体层(120)的一部分由氧化物层(140)覆盖,其承载未掺杂区域(130)上的导电栅极(104)以及分别位于第一掺杂区域(121)和第二掺杂区域(122)上的第一间隔物(111)和第二间隔物(112)。此外,氧化物层(140)承载第一绝缘间隔物(125)和第二绝缘间隔物(126),以提供栅极结构分别同第一导电接触(135)和第二导电接触(136)之间的足够的绝缘。由于第一间隔物(111)、第二间隔物(112)、第一绝缘间隔物(115)和第二绝缘间隔物(116)安装在氧化物层(140)上,因此获得了具有有利的寄生导电率特性的薄膜晶体管(100)。
搜索关键词: 薄膜晶体管 用于 制造 方法 具有 晶体管 电子设备
【主权项】:
1.一种衬底(102)上的薄膜晶体管(100),包括:半导体层(120),其具有在第一另外的掺杂区域(125)和第二另外的掺杂区域(126)之间的第一掺杂区域(121)和第二掺杂区域(122),并且具有在第一掺杂区域(121)和第二掺杂区域(122)之间的未掺杂区域(123),第一掺杂区域(121)和第二掺杂区域(122)具有比第一另外的掺杂区域(125)和第二另外的掺杂区域(126更低的导电率;和氧化物层(140),其部分覆盖了半导体层(120)的表面,该氧化物层(140)承载:-未掺杂区域(123)上的导电栅极(104),其具有基本上垂直于氧化物层(140)的第一侧和第二侧;-第一间隔物(111)和第二间隔物(112),其分别与导电栅极(104)的第一侧和第二侧相邻;-第一绝缘间隔物(115),其与导电栅极(104)的第一侧相对同第一间隔物(111)的侧面相邻;和-第二绝缘间隔物(116),其与导电栅极(104)的第二侧相对同第二间隔物(112)的侧面相邻;该薄膜晶体管(100)进一步包括:具有第一另外的掺杂区域(125)的第一导电接触(135);和具有第二另外的掺杂区域(126)的第二导电接触(136)。
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