[发明专利]薄膜电容器及其制造方法无效
申请号: | 200380107746.2 | 申请日: | 2003-12-25 |
公开(公告)号: | CN1732540A | 公开(公告)日: | 2006-02-08 |
发明(设计)人: | 坂下幸雄;崔京九 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | H01G4/33 | 分类号: | H01G4/33;H01G4/12 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种尺寸小、电容大、且介电特性优异的薄膜电容器及其制造方法。根据本发明的薄膜电容器包括其表面沿[001]方向定向的支持衬底、形成在支持衬底上且其表面沿[001]方向定向的缓冲层、形成在缓冲层上且其表面沿[001]方向定向的下电极薄膜、形成在下电极薄膜上且其表面沿[001]方向亦即其c轴定向的包含铋层结构化合物的介质薄膜、以及形成在介质薄膜上的上电极薄膜。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 电容器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜电容器,它包含第一电极结构本体、第二电极结构本体、以及提供在第一电极结构本体与第二电极结构本体之间且包含铋层结构化合物的介质薄膜,与介质薄膜接触的第一电极结构本体的表面沿[001]方向被定向。
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