[发明专利]用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法和使用该方法的光记录介质有效
| 申请号： | 200380108780.1 | 申请日： | 2003-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN1739158A | 公开（公告）日： | 2006-02-22 |
| 发明（设计）人： | 朴容彻;金成大 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 樊卫民;杨本良 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法及使用该方法的光记录介质。在用于使用比如BD－WO类型光盘的光盘记录/再现数据的光盘设备中，该方法允许通过用于记录缺陷区域的数据的替换写入操作，来正常读取和再现写在光盘的缺陷区域上的记录数据。当在记录处理期间在光盘的预定记录扇区中检测到缺陷时，将记录数据写在对应于缺陷区域的备用区上，并因此管理写入数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 管理 一次性 写入 记录 介质 缺陷 区域 方法 使用 | ||
【主权项】：
1.一种用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法，其包括步骤：在光记录介质的预定记录扇区中写入数据之后，检测在预定记录扇区中缺陷的存在；通过在指定给光记录介质的数据区的备用区中写入数据，且在光记录介质的指定的记录扇区中写入作为临时缺陷列表信息的定位符信息来替换写在缺陷记录扇区中的数据，该定位符信息表示缺陷记录扇区；和在指定到光记录介质的导入区的缺陷管理区域中写入用于访问临时缺陷列表信息的写入位置信息和用于确定对写入位置信息的访问的标识信息作为光盘定义结构信息。
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