[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 200380109304.1 | 申请日: | 2003-12-26 |
公开(公告)号: | CN1745193A | 公开(公告)日: | 2006-03-08 |
发明(设计)人: | 近藤英一;V·韦津;久保谦一;暮石芳宪;太田与洋 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社;近藤英一 |
主分类号: | C23C18/04 | 分类号: | C23C18/04;C23C18/18;C25D7/12;H01L21/288 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的课题是,在形成了Cu扩散防止膜的微细图案上形成Cu膜的情况下,通过使用超临界状态介质的清洗方法,对被处理基板上的该Cu扩散防止膜表面进行清洗,再使用超临界状态的介质进行Cu膜的成膜,使得Cu膜与微细图案的密合性良好,而且无空隙。本发明使用基板处理方法解决了上述课题,该方法其特征在于,包括:将包含超临界状态介质的第一处理介质供给被处理基板,对被处理基板表面上包含金属的膜进行清洗的第一工序;和将包含上述超临界状态介质的第二处理介质供给上述被处理基板,进行Cu膜成膜的第二工序。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理方法,其特征在于,具有:将包含超临界状态介质的第一处理介质供给被处理基板,然后对被处理基板表面上包含金属的膜进行清洗的第一工序;和将包含所述超临界状态介质的第二处理介质供给所述被处理基板,进行Cu膜成膜的第二工序。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C18-00 通过液态化合物分解抑或覆层形成化合物溶液分解、且覆层中不留存表面材料反应产物的化学镀覆
C23C18-02 .热分解法
C23C18-14 .辐射分解法,例如光分解、粒子辐射
C23C18-16 .还原法或置换法,例如无电流镀
C23C18-54 .接触镀,即无电流化学镀
C23C18-18 ..待镀材料的预处理
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C18-00 通过液态化合物分解抑或覆层形成化合物溶液分解、且覆层中不留存表面材料反应产物的化学镀覆
C23C18-02 .热分解法
C23C18-14 .辐射分解法,例如光分解、粒子辐射
C23C18-16 .还原法或置换法,例如无电流镀
C23C18-54 .接触镀,即无电流化学镀
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