[发明专利]直线式离子阱及质量分析器系统和方法无效
| 申请号： | 200380110126.4 | 申请日： | 2003-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN1788327A | 公开（公告）日： | 2006-06-14 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·G·库克斯;欧阳政 | 申请（专利权）人： | 珀杜研究基金会 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 魏晓刚;李晓舒 |
| 地址： | 美国印*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了一种新形状的离子阱及其作为质谱仪的使用。可以线性地及并联地组合离子阱而形成用于质量储存、分析、打断、分隔等的系统。离子阱具有简单的直线几何形状，并具有高的陷获能力。它可操作为既在质量选择稳定模式下也在质量选择不稳定模式下提供质量分析。多个离子阱的阵列允许对陷获离子应用多个气相过程的组合以在离子分析中达到高灵敏度、高选择性及/或更高的处理量。 | ||
| 搜索关键词： | 直线 离子 质量 分析器 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种直线式离子阱质量分析器，包括：设置在zx和zy平面上间隔的x和y对平面电极以限定一陷获体积；RF电压源，其用于在x和y对电极之间施加RF电压以在xy平面上产生RF陷获场；在由所述x和y电极对限定的陷获体积内的末端的端电极DC电压源，其用于向至少所述端电极上施加DC电压以沿z轴提供DC陷获场由此离子被陷获在该陷获体积内；及AC电压源，其用于向至少一对所述间隔的x或y电极施加AC电压以在相应的zx或zy平面内激发离子。
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