[发明专利]包括沟槽电容器的半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200410000178.2 申请日: 2004-01-08
公开(公告)号: CN1518113A 公开(公告)日: 2004-08-04
发明(设计)人: 竹中圭一;酒井伊都子;成田雅贵;大岩德久;三田淳夫;矢桥胜典 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/82;H01L21/8242
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于静;李峥
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种包括沟槽电容器的半导体器件包括半导体衬底,包括窄部分和主部分的沟槽,窄部分的直径同轴地小于主部分处的沟槽直径,提供在半导体衬底中环绕包括窄部分的沟槽的第一电容器电极,沿第一电容器电极的表面提供的电容器绝缘膜,以及提供在沟槽内部的第二电容器电极。
搜索关键词: 包括 沟槽 电容器 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种包括沟槽电容器的半导体器件,包括:半导体衬底;提供在半导体衬底上的沟槽,就垂直于衬底表面的剖面而言,该沟槽包括窄部分和具有基本上直的侧壁的主部分,窄部分的直径同轴地小于主部分处的沟槽直径;提供在半导体衬底中以环绕包括窄部分的沟槽的第一电容器电极;沿第一电容器电极的表面提供的电容器绝缘膜;以及提供在沟槽内部的第二电容器电极,第二电容器电极通过电容器绝缘膜与第一电容器电极相对。
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