[发明专利]一种嵌入式存储器的测试装置无效
| 申请号： | 200410001140.7 | 申请日： | 2004-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN1649034A | 公开（公告）日： | 2005-08-03 |
| 发明（设计）人： | 周芬;周天夷 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种嵌入式存储器的测试装置，属于存储器的测试领域。本发明可节省芯片面积和功耗。本发明嵌入式存储器测试控制模块包括一个地址产生器、一个有限状态机和一个向量产生器，地址产生器为与N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，向量产生器为与所述N组存储器模块中位宽最宽的存储器对应的向量产生器。当地址产生器对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器的深度时，地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块对应的响应分析器，禁止该响应分析器工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 存储器 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块(2)和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器(8)和N个向量产生器(7)，其特征在于，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括一个地址产生器(5)和一个有限状态机(6)，所述地址产生器(5)为与所述N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，所述有限状态机(6)发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述有限状态机(6)控制地址产生器(5)和N个向量产生器(7)产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关，当地址产生器(5)对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器(5)的深度时，所述地址产生器(5)发送禁止信号给深度超过地址产生器(5)深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器(5)发送禁止信号给深度超过地址产生器(5)深度的存储器模块对应的响应分析器(8)，禁止该响应分析器(8)工作，所述N个响应分析器(8)根据有限状态机(6)的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器(8)将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
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