[发明专利]存储多位的晶体管以及制造包括它的半导体存储器的方法无效

专利信息
申请号: 200410001391.5 申请日: 2004-01-07
公开(公告)号: CN1518111A 公开(公告)日: 2004-08-04
发明(设计)人: 三井田高;市之濑秀夫 申请(专利权)人: 伊诺太科株式会社
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L29/788;H01L21/336;H01L21/8239
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 肖春京
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 快速存储器,它包括形成于凸台(13a)的相对侧壁(13b)上且各通过隧道绝缘层(15a)面对一侧壁(13b)和源/漏区(BL1,BL2)之一的一对浮动栅(FG1,FG2)。此浮动栅(FG1,FG2)在垂直列向的方向上各具有基本呈方形的横剖面。此方形横剖面在两相连侧之一通过隧道绝缘层(15a)面对凸台(13a)的侧壁(13b)之一而在此两相邻侧之另一通过隧道绝缘层(15a)面对该源/漏区(BL1,BL2),同时在又一侧则通过中间多晶绝缘层(15b)面对控制栅(CG)。
搜索关键词: 存储 晶体管 以及 制造 包括 半导体 存储器 方法
【主权项】:
1.晶体管,其特征在于它包括:由具有一对相互面对的侧壁(13b)的凸台(13a)形成的一种传导型半导体基片(13);形成于此凸台(13a)顶部(13c)上的第一绝缘层(15c);在此凸台(13a)的两则形成于半导体基片(13)表面上的一对相反传导型源漏区(BL1,BL2);第二绝缘层(15a),它们层覆盖这对侧壁(13b)之一以及所述源漏区(BL1,BL2)之一;一对浮动栅(FG1,FG2),分别形成于此凸台(13a)的成对侧壁(13b)上并通过各相应的第二绝缘层(15a)分别面对侧壁(13b)与源漏区(BL1,BL2);第三绝缘层(15b),它们各形成于此浮动栅(FG1,FG2)之一上;控制栅(CG),它通过此第三绝缘层(15b)面对成对的浮动栅(FG1,FG2)且通过第一绝缘层(15c)面对凸台(13a)的顶部(15c);其中所述成对的浮动栅(FG1,FG2)各具有基本上方形的剖面,它于一侧通过一第二绝缘层(15a)面对凸台(13a)的一个侧壁(13b)而于另一侧通过第二绝缘层(15a)面对一个源/漏区(BL1,BL2)且于另一侧通过一第三绝缘层(15b)面对控制栅(CG)。
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