[发明专利]设计检查系统，设计检查方法以及设计检查程序无效
| 申请号： | 200410002244.X | 申请日： | 2004-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN1530863A | 公开（公告）日： | 2004-09-22 |
| 发明（设计）人： | 齐藤义行;清原督三 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的目的在于提供即使在用因特网连接的环境下，不公开电路设计技术或者基板设计技术，就能够进行基板布局的电特性检查的设计检查系统，设计检查方法以及设计检查程序，在本发明中，从所输入的基板布局信息基于基板布局的影响预测的发生电特性不良的位置抽取出特征量，修正判定单元通过把该特征量与从数据库读出的对应于电特性不良的修正判定基准进行比较判定是否需要进行布局修正，由此，不向使用者公开修正判定基准或者判定方法，就能够进行电特性的检查。 | ||
| 搜索关键词： | 设计 检查 系统 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
1.一种设计检查系统，该设计检查系统对于基板布局信息进行电特性的检查，其特征在于：具备保存数据库的存储单元，其中，对于由于基板布局的影响预测的发生电特性不良的每一个发生原因，把从上述基板布局信息确定预测的发生电特性不良的位置的位置确定条件、抽取出的特征量的项目以及作为判定是否要进行基板布局修正的基准的修正判定基准分别进行关联；根据上述位置确定条件，从上述基板布局信息确定位置的位置确定单元；在该确定了的位置，抽取出上述特征量的特征量抽取单元；把上述特征量抽取单元抽取出的特征量与从上述存储单元读出的与该特征量相对应的上述修正判定基准进行比较，判定是否要进行基板布局修正的修正判定单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410002244.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
