[发明专利]闪存的程序化验证方法有效

专利信息
申请号: 200410002265.1 申请日: 2004-01-15
公开(公告)号: CN1641793A 公开(公告)日: 2005-07-20
发明(设计)人: 周铭宏;何信义 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陈亮
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种闪存的程序化确认方法。当读取闪存的存储单元时,施加于存储单元的漏极的电压为读取漏极电压。首先致能字符线,施加一确认闸极电压。致能第一位线,第一位线是与存储单元的漏极电性连接,并施加一确认漏极电压于第一位线,其中确认漏极电压是大于读取漏极电压。致能第二位线,将之接地。致能第三位线,施加一确认隔离电压。然后,感测第一位在线的漏极电流,其中漏极电流是流经第一位线、存储单元及第二位线。最后,依据漏极电流判断存储单元是否程序化成功。
搜索关键词: 闪存 程序化 验证 方法
【主权项】:
1.一种闪存的程序化确认方法,当读取该闪存之一存储单元时,施加于该存储单元的漏极的电压为一读取漏极电压,该方法包括:致能一字符线,施加一确认闸极电压;致能第一位线,该第一位线是与该存储单元的漏极电性连接,施加一确认漏极电压于该第一位线,该确认漏极电压是大于该读取漏极电压;致能第二位线,将之接地;致能第三位线,施加一确认隔离电压;感测该第一位在线的一漏极电流,其中该漏极电流是流经该第一位线、该存储单元及该第二位线;以及依据该漏极电流判断该存储单元是否程序化成功。
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