[发明专利]有源驱动型像素结构及其检查方法无效
申请号: | 200410002542.9 | 申请日: | 2004-01-30 |
公开(公告)号: | CN1519809A | 公开(公告)日: | 2004-08-11 |
发明(设计)人: | 吉田孝义;坂口正三郎 | 申请(专利权)人: | 东北先锋电子股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/30 | 分类号: | G09G3/30;G01R31/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘宗杰;叶恺东 |
地址: | 日本山形*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的课题是在至少包括了控制用TFT、驱动用TFT以及电荷保持用电容器的有源驱动型像素结构中,能够容易地检查各TFT和电容器的功能是否正常。在包括了控制用TFT(Tr1)、驱动用TFT(Tr2)以及电荷保持用电容器C1的有源驱动型像素结构中,检查用虚拟负载W的一端与驱动用TFT的漏连接,同时该虚拟负载的另一端与检查用线3连接。通过既使施加到数据线2a上的电压可变,又测定在检查用线3中得到的电流Id,可检查TFT和电容器的功能是否正常。在检查结束后,上述虚拟负载W或用激光束烧断,或通过将规定的电流流到虚拟负载W中使之熔融切断。 | ||
搜索关键词: | 有源 驱动 像素 结构 及其 检查 方法 | ||
【主权项】:
1.一种有源驱动型像素结构,它至少包括了根据数据线的电位以生成控制输出信号的控制用TFT、根据上述控制输出信号以控制驱动电流的驱动用TFT和暂时保持上述控制输出信号的电荷保持用电容器的有源驱动型像素结构,其特征在于:检查用虚拟负载的一端与上述驱动用TFT的电流输出端子连接,同时该检查用虚拟负载的另一端与检查用线连接。
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