[发明专利]光学记录介质、检测数据块识别标记方法及光学存储单元无效
申请号: | 200410003276.1 | 申请日: | 2000-04-28 |
公开(公告)号: | CN1555049A | 公开(公告)日: | 2004-12-15 |
发明(设计)人: | 西本英树;森本宁章;荒井茂;沼田健彦;柳茂知;青木顺 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B7/007;G11B11/10 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种光学记录介质,提供有沿予定方向交替设置了脊和槽的基片,设在脊和槽上的数据记录区,以及记录有数据块识别标记的识别标记记录区。所述识别标记记录区仅设在所述脊和槽之一上。 | ||
搜索关键词: | 光学 记录 介质 检测 数据 识别 标记 方法 存储 单元 | ||
【主权项】:
1.一种光学存储单元,可与光学记录介质一起使用,其中的光学记录介质具有相同深度的信迹槽和坑,并且信迹槽具有适于数据再现的予定深度,该光学存储单元包括:一个光电检测器,用于检测从光学记录介质反射的并且沿光学记录介质上的信迹方向分成至少两束的返回光;和一个ID信号检测器,用于获得对沿光学记录介质上信迹方向分成至少两束的光进行检测的光电检测器的输出信号之差信号,并且将该差信号作为ID信号输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410003276.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:丙烯酸类聚合物
- 下一篇:用于将移动终端连接到数据库的方法与系统