[发明专利]半导体集成电路误动作发生部位检测法、布局法及其程序

摘要

本发明提供一种容易特定由于电源电压变动而产生误动作可能性高的部位，从而在掩膜布局阶段就进行对策的方法。仿真部(101)仿真半导体集成电路的动作，求出输入到各电路元件的输入信号的传递时间。同时动作电路元件检测部(102)是由共同电源布线供给电源电压的电路元件，并且，根据上述仿真的结果，求出输入信号的传递时间在规定的时间范围内(比如0.3ns以下的时间差)的电路元件数。电源电压变动程度推定部(103)根据由上述同时动作电路元件数检测部(102)求出的电路元件数，求出电源电压的变动程度。

主权项

1.一种半导体集成电路的误动作发生部位检测方法，其特征在于，具有：传递时间检测步骤，求出输入到由共同电源布线供给电源电压的各电路元件的输入信号或者从所述各电路元件输出的输出信号的传递时间；同时动作电路元件数检测步骤，求出所述传递时间在规定的时间范围内的电路元件数；电源电压变动程度推定步骤，根据所述同时动作电路元件数检测步骤求出的电路元件数，推定电源电压变动程度。