[发明专利]增加信道载子流动性的结构有效

专利信息
申请号: 200410004335.7 申请日: 2004-02-13
公开(公告)号: CN1525574A 公开(公告)日: 2004-09-01
发明(设计)人: 黄健朝;王昭雄;葛崇祜;李文钦;胡正明 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 马娅佳
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种增加信道载子流动性的结构,结构包括一复合半导体基底、一闸极、一源极区及一汲极区、一金属硅化物层及一拉伸应力层;其中,复合半导体基底由一第一硅基底层、一第一硅锗基底层、一第二硅锗基底及一第二硅基底层所组成,第二硅基底层形成于顶部;闸极形成于复合半导体基底上;源极区及汲极区分别形成于闸极两侧的复合半导体基底上;金属硅化物层分别形成于闸极、源极区及汲极区上;及拉伸应力层覆盖于复合半导体基底及其它组件上。
搜索关键词: 增加 信道 流动性 结构
【主权项】:
1.一种增加信道载子流动性的结构,其特征在于,包括:一复合半导体基底,该复合半导体基底由一第一硅基底层、一第一硅锗基底层、一第二硅锗基底及一第二硅基底层所组成,该第二硅基底层形成于顶部;一闸极,形成于该复合半导体基底上;一源极区及一汲极区,该源极区及该汲极区分别形成于该闸极两侧的该复合半导体基底上;一金属硅化物层,分别形成于该闸极、该源极区及该汲极区上;及一拉伸应力层,覆盖于该复合半导体基底及该等组件上。
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