[发明专利]半导体测试电路、半导体存储器件和半导体测试方法

摘要

一种半导体测试电路，用于测试半导体存储器件，并且具有简单的结构和大量可执行的测试模式。多个计数器通过从这些计数器输出的计数值分别指定写/读地址的多个部分，其中每一个部分由一个位或多个连续位组成。切换电路选择性地输出用于单独地控制这些计数器的操作的计数器控制信号。每一个计数器控制信号是公用于这些计数器的公共计数器控制信号，或者是从这些计数器中除该计数器控制信号所输出到的第二个计数器之外的第一个计数器输出的所述多个部分之一的最高位。因此，可以将写/读地址的分配变化为计数器的计数值。

主权项

1.一种半导体测试电路，用于执行半导体存储器件的写操作或读操作中至少一个的测试，其包括：多个计数器，其指定在写操作和读操作中的所述至少一个中使用的地址信号的多个不同部分，该多个不同部分中的每一个包括一个位或多个连续的位；及切换电路，其选择性地输出用于单独地控制所述多个计数器的操作的计数器控制信号，其中各个所述计数器控制信号是公用于所述多个计数器的公共记数器控制信号以及从所述多个计数器中除所述的各个所述计数器控制信号所输出到的第二个计数器之外的第一个计数器输出的所述多个部分中的一个的最高位中的其中之一。