[发明专利]集成电路中的集成测试电路无效
| 申请号： | 200410005441.7 | 申请日： | 2004-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN1523368A | 公开（公告）日： | 2004-08-25 |
| 发明（设计）人： | G·弗兰科维斯基;R·凯塞 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/165;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;梁永 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本案系有关于一种在集成电路中之集成测试装置，用以测试复数内电压，一切换装置被提供，用以选择根据为了测试目的之选择信号来选择其中一内电压；一比较器装置被提供，其系依据该选择的内电压，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压，以及由于该比较而输出一错误信号。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 中的 集成 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种在集成电路(1)中之集成测试电路，用以测试复数内电压(V0、V1、V2、…Vn)，一交换装置(4)，其系用以根据为了测试目的之一选择信号来选择其中一该内电压(V0、V1、V2、…Vn)而被提供，一比较器装置(5)，其系依据该选择的内电压(V0、V1、V2、…Vn)，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压(Vref)，并且用以输出由于该比较之一错误信号。
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