[发明专利]确定扁平带状电缆的导线路径区域中的绝缘层厚度的方法和设备无效
| 申请号： | 200410005847.5 | 申请日： | 2004-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN1523322A | 公开（公告）日： | 2004-08-25 |
| 发明（设计）人： | 赫拉尔德·斯克拉 | 申请（专利权）人： | 斯考拉股份公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/00;G01T1/16 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 马浩 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 用于确定一个扁平带状电缆的金属导线路径区域中的绝缘层厚度的方法，其中扁平带状电缆的一侧被一束X光照射，在扁平带状电缆的相同或相反一侧的一个探测器测量由各导线路径发射出的X光发光辐射的强度，探测器对于X光辐射是被屏蔽的。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 扁平 带状 电缆 导线 路径 区域 中的 绝缘 厚度 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种确定扁平带状电缆的金属导线路径区域中的绝缘层厚度的方法，其特征在于扁平带状电缆的一侧被一束X光照射，而位于扁平带状电缆的相同或相反一侧的一个探测器测量由各个导线路径发射出的X光发光辐射的强度，其中探测器被屏蔽掉X光辐射。
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