[发明专利]兼容型光学拾取器以及其中光输出量的检测方法有效

专利信息
申请号: 200410005914.3 申请日: 2004-01-29
公开(公告)号: CN1542784A 公开(公告)日: 2004-11-03
发明(设计)人: 林智焕;李周炯;成平庸;金银求;金天基;朴庆奂 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/12 分类号: G11B7/12;G11B7/13
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马高平;杨梧
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种兼容型光学拾取器,包括第一和第二光源,发出具有不同波长的光,第一和第二光电检测器,用于检测信息信号和/或误差信号,以及一种使用兼容型光学拾取器检测光输出量的方法。第一光电检测器监测第二光源的光输出量,第二光电检测器监测第一光源的光输出量。由于通过第一和第二光电检测器检测出用于监测第二和第一光源的光输出量的信号,因此不需要额外的前置光电检测器。这样,就减少了光学拾取器中光学组件的数量。同样,由于无需考虑在基面上安装光电检测器的空间,使得基面得以简化。这样既减少了低劣模子的数量,又延长了模子的使用寿命。
搜索关键词: 兼容 光学 拾取 以及 其中 输出量 检测 方法
【主权项】:
1、一种兼容型光学拾取器,可兼容处理具有不同格式类型的第一和第二记录介质,包括:第一光源,其所发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长;第一光电检测器,检测与第一记录介质相关的信息信号和/或误差信号;第二光源,其所发出的第二光束具有适于第二记录介质的波长;以及第二光电检测器,检测与第二记录介质相关的信息信号和/或误差信号,其中第一光电检测器通过检测从第二光源发出的、并经反射过程入射至第一光电检测器的部分第二光束,对第二光源的光输出量进行监测,和/或第二光电检测器通过检测从第一光源发出的,并经反射过程入射至第二光电检测器的部分第一光束,对第一光源的光输出量进行监测。
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