[发明专利]电可擦除可编程只读存储器单元及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200410006714.X 申请日: 2004-01-24
公开(公告)号: CN1521854A 公开(公告)日: 2004-08-18
发明(设计)人: 金荣浩;申镐奉 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)单元及其制造方法。EEPROM单元包括:形成在半导体衬底上的、用来限定有源区的隔离层;在有源区中顺次设置的源区、掩埋N+区和漏区。所配置的存储栅横跨掩埋N+区。第一沟道区形成在源区与掩埋N+区之间。隧道区位于掩埋N+区与存储栅之间,并自对准于掩埋N+区。这样,可以实现隧道区与掩埋N+区之间的重叠面积在整个衬底上是一致的,由此改善了EEPROM器件的编程、擦除和读取操作。
搜索关键词: 擦除 可编程 只读存储器 单元 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种电可擦除可编程只读存储器单元,包括:一隔离层,形成在半导体衬底中用于限定有源区;一源区、一掩埋N+区和一漏区,形成在该有源区中且彼此分离;一单元耗尽区,形成在该掩埋N+区和该漏区之间的该有源区中,该掩埋N+区与该单元耗尽区接触;位于所述源区与所述掩埋N+区之间的第一沟道区;位于所述单元耗尽区与所述漏区之间的第二沟道区;一存储栅,形成在所述第一沟道区和所述掩埋N+区上;一选择栅,形成在所述第二沟道区上;和一隧道氧化物层,形成在所述掩埋N+区上,其中,该隧道氧化物层的边缘与所述掩埋N+区的边缘之间的距离是等距的。
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