[发明专利]遮光修正方法和装置及数码相机有效
申请号: | 200410007832.2 | 申请日: | 2004-03-04 |
公开(公告)号: | CN1527590A | 公开(公告)日: | 2004-09-08 |
发明(设计)人: | 川上诚;岩泽高广;猪熊一行;津村敬一;德山克巳;中嶋俊幸 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种遮光修正方法和装置及数码相机,可由简单的结构、相应光学系统特性地圆滑、高精度地实现遮光修正。距离运算部(12)根据象素的水平坐标值(HC)和垂直坐标值(VC),运算距光轴位置的距离值(RV)。修正数据运算部(13)接受距离值(RV),参照表示距离值与修正数据的关系的近似函数,运算对该象素的修正数据(CD)。该近似函数分割成多个区间,分别用2次函数来表示各区间。EEPROM(5)存储规定各区间的2次函数的采样点的数据。 | ||
搜索关键词: | 遮光 修正 方法 装置 数码相机 | ||
【主权项】:
1、一种遮光修正方法,对相机拍摄的图像数据修正透镜遮光,其特征在于:具备:对所述图像数据的象素,求出与距光轴位置的距离有关的距离值的步骤;根据求出的距离值,参照表示距离值与修正透镜遮光用的修正数据的关系的近似函数,求出与所述象素相关的修正数据的步骤;和由求出的修正数据来修正所述象素的象素值的步骤,所述近似函数,由被分割成多个的区间构成,在各区间中分别由用规定数量的采样点所规定的2次函数来表示。
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