[发明专利]内嵌误码测试功能的光端机及实现端到端误码测试的方法

摘要

本发明涉及一种内嵌误码测试功能的光端机及实现端到端误码测试的方法。光端机包括微处理器单元、E1线路接口单元、光线路接口单元、误码测试单元和分别与E1线路接口单元、光线路接口单元、误码测试单元连接的支路测试选择器单元，误码测试单元产生检测序列和检测经传输后的检测序列。进行误码测试时，可从远端光端机内部环回、外部环回和两端光端机对测的三种方式中选择任一种测试方式，从而执行相应的步骤，这些步骤是在网管台控制下，通过光端机中的微处理器单元发出控制命令，并由支路测试选择器单元具体执行的，实现检测序列向光方向或E1线路方向的任意支路发送，和将光方向或E1线路方向的任意支路的检测序列送误码检测器检测。

主权项

1.一种内嵌误码测试功能的光端机，包括由微处理器单元、E1线路接口单元和光线路接口单元组成的光端机部分，E1线路接口单元通过E1业务信号输入/输出端与用户设备连接，光线路接口单元通过光信号输入/输出端与光纤连接，光线路接口单元包括复用器和解复用器，其特征在于：还包括误码测试单元和支路测试选择器单元；误码测试单元包括伪随机序列发生器和伪随机序列检测器；微处理器单元通过数据总线与控制总线连接E1线路接口单元、误码测试单元、支路测试选择器单元和光线路接口单元，支路测试选择器单元分别连接误码测试单元、E1线路接口单元和光线路接口单元；伪随机序列发生器产生的检测序列传送给所述的支路测试器选择单元，支路测试器选择单元将来自待测线路的检测序列传送给伪随机序列检测器单元；所述的支路测试选择器单元在微处理器单元的控制下，完成E1业务信号或发送的检测序列在E1线路接口单元与光线路接口单元间的支路选择及方向选择，以及完成E1业务信号或接收的来自待测线路的检测序列在E1线路接口单元与光线路接口单元间的支路选择及方向选择；所述的E1线路接口单元在微处理器单元的控制下，完成检测序列在待测线路上的环回，和E1业务信号的编解码、E1业务信号的时钟提取及E1业务信号HDB3码与NRZ码的选择。