[发明专利]软件关联缺陷检测方法无效
| 申请号： | 200410009531.3 | 申请日： | 2004-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN1746862A | 公开（公告）日： | 2006-03-15 |
| 发明（设计）人： | 蔡开元;景涛;白成刚;胡德斌 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 刘秀娟;成金玉 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 软件关联缺陷检测方法，其特征在于按下列步骤进行测试：(1)根据需要初始化缺陷描述数组defects，若要测试全部缺陷，令defects[i][0]＝1(表示缺陷是打开的)，defects[i][1]＝0(表示缺陷未知)，i＝1，2，……，n，n为软件中的缺陷数；(2)以概率0.01重新打开一个已剔除的缺陷j，即if(defects[j][1]＝1)then defects[j][0]＝1；(3)从测试用例库中随机选一个测试用例进行测试；(4)如果发现缺陷，假定该缺陷编号为j，则令defects[j][0]＝0(剔除缺陷)，defects[j][1]＝1(标记缺陷为已知)；(5)如果达到测试停止条件，比如找到所有缺陷或测试时间已满则停止，转第(6)步；否则转第(2)步；(6)停止。采用本发明的测试方法，不仅可以有效检测和剔除关联缺陷，而且提高了缺陷的检测率。 | ||
| 搜索关键词： | 软件 关联 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、软件关联缺陷检测方法，其特征在于按下列步骤进行测试：(1)根据需要初始化缺陷描述数组defects，若要测试全部缺陷，令defects[i][0]＝1(表示缺陷是打开的)，defects[i][1]＝0(表示缺陷未知)，i＝1，2，……，n，n为软件中的缺陷数；(2)以概率0.01重新打开一个已剔除的缺陷j，即if(defects[j][1]＝1)thendefects[j][0]＝1；(3)从测试用例库中随机选一个测试用例进行测试；(4)如果发现缺陷，假定该缺陷编号为j，则令defects[j][0]＝0(剔除缺陷)，defects[j][1]＝1(标记缺陷为已知)；(5)如果达到测试停止条件，找到所有缺陷或测试时间已满则停止，转步骤(6)；否则转步骤(2)；(6)停止测试。
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