[发明专利]一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法无效
申请号: | 200410009805.9 | 申请日: | 2004-11-16 |
公开(公告)号: | CN1632965A | 公开(公告)日: | 2005-06-29 |
发明(设计)人: | 于广华;滕蛟;朱逢吾;张辉;王立锦 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | H01L43/12 | 分类号: | H01L43/12;H01L43/08;C23C14/34 |
代理公司: | 北京科大华谊专利代理事务所 | 代理人: | 杨玲莉 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法,涉及磁电阻薄膜的制备方法,特别是涉及各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备。本方法是采用磁控溅射方法,通过选取不同成分的NixFe1-x合金靶,x为78~85,以及溅射前通入镀膜室99.99%纯度氩气0.5~1小时,维持在气压0.1~0.5Pa,控制薄膜杂质含量小于0.1%,制备出具有准确成分的Ni81Fe19薄膜。本方法在进一步降低薄膜制备难度的同时,仍能保证薄膜很薄时具有较高的各向异性磁电阻值和低矫顽力、低晶体各向异性、大的磁化强度和低磁致伸缩等综合性能,以满足磁传感器的性能和产品需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 各向异性 磁电 阻坡莫 合金 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法,采用磁控溅射方法,溅射室本底真空度为1×10-5~6×10-5Pa,在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上依次沉积1.0~12.0nmTa、10.0~200.0nmNiyFe1-y和5.0~9.0nmTa,其特征在于,选取不同成分的NixFe1-x合金靶;溅射前通入镀膜室99.99%纯度氩气0.5~1小时,维持在气压0.1~0.5Pa;通过对NiyFe1-y化学分析,找出薄膜成分符合81Ni∶19Fe、并且薄膜杂质含量小于0.1%的情况下所对应的NixFe1-x合金靶,利用这个选出的坡莫合金靶来沉积Ni81Fe19薄膜。
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