[发明专利]光刻装置、照射系统以及提供远紫外线辐射投影光束的方法无效
申请号: | 200410010444.X | 申请日: | 2004-12-03 |
公开(公告)号: | CN1627191A | 公开(公告)日: | 2005-06-15 |
发明(设计)人: | V·V·伊瓦诺夫;V·Y·巴宁;K·N·科舍勒夫 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;H01L21/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 肖春京 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明披露一种光刻装置。该光刻装置包括提供辐射光束的照射系统和支撑图案形成装置的支撑结构。图案形成装置配置成在横截面内给辐射光束赋予图案。该装置还包括支撑基底的基底支座,和投影图案光束到基底上靶区的投影系统。该照射系统包括生成远紫外线辐射的辐射生成系统,和收集远紫外线辐射的辐射收集系统。作为远紫外辐射产品的副产物生成的粒子沿粒子移动方向移动。辐射收集系统布置成收集沿收集方向辐射的远紫外辐射,该收集方向基本不同于粒子的运动方向。 | ||
搜索关键词: | 光刻 装置 照射 系统 以及 提供 紫外线 辐射 投影 光束 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光刻装置,包括:提供辐射光束的照射系统;支撑图案形成结构的支撑结构,所述图案形成结构用于在所述辐射光束的横截面内给所述辐射光束赋予图案;支撑基底的基底支座;和将带图案的光束投影到基底的目标部分上的投影系统,所述照射系统包括:生成远紫外线辐射的辐射生成系统,其中作为生成远紫外线辐射产品的副产物而产生的粒子基本上在粒子移动方向上运动;以及收集远紫外线辐射的辐射收集系统,该辐射收集系统布置成收集沿收集方向辐射的远紫外线辐射,该收集方向基本上不同于所述粒子移动方向。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ASML荷兰有限公司,未经ASML荷兰有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410010444.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。