[发明专利]光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法

摘要

本发明涉及光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法，光栅光谱仪器高级次叠加光谱的计算分离方法：首先测量基于光栅和光谱仪器结构的异级光谱信号比γ插值，得到插值短波一级光谱信号I₁ (λI₁ (λI₂ (λ谱信号I₁₊₂ (λI₂ (λ谱信号I₁ (λ加二级光谱的分离，叠加的其它高级次光谱可依次进行分离。本方法可在任意光谱范围内分离光栅的高级次光谱，摆脱了分离高级次光谱对前截止滤光片的依赖，可以减小光栅光谱仪器结构设计的复杂性。特别对于使用面阵探测器的光栅光谱仪器，可使其结构设计更加容易。

主权项

1、光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法，其特征在于分离步骤：只对测得的自由光谱区短波光谱信号I(λj)＝I1(λj)和叠加光谱区的混合光谱信号I1+2(λi)＝I1(λj)+I2(λi)的光谱数据进行计算处理，就能够从I1+2(λi)混合光谱信号中分离短波二级光谱信号I2(λi)，从而获得长波一级光谱信号I1(λj)：a.首先测量基于光栅和光谱仪结构的短波二级光谱信号和短波一级光谱信号的比值，异级光谱信号比γ2/1(λi)：$\frac{I_2\left({\lambda }_i\right)}{I_1\left({\lambda }_i\right)}=\frac{E\left({\lambda }_i\right){\eta }_2\left({\lambda }_i\right){\tau }_0\left({\lambda }_i\right)R\left({\lambda }_i\right)}{E\left({\lambda }_j\right){\eta }_1\left({\lambda }_j\right){\tau }_0\left({\lambda }_j\right)R\left({\lambda }_j\right)}=\frac{{\eta }_2\left({\lambda }_i\right)}{{\eta }_1\left({\lambda }_j\right)}={\gamma }_{2/1}\left({\lambda }_i\right)$ b.再将基于光栅和光谱仪结构的自由光谱区的短波一级光谱信号数据相邻项中间插值处理，得到插值短波一级光谱信号I1(λi)：I1(λi)＝E(λi)η1(λi)τ0(λi)R(λi)c.将异级光谱信号比γ2/1(λi)和插值短波一级光谱信号I1(λi)相乘，得到叠加光谱区的短波二级光谱信号I2(λi):I2(λi)＝E(λi)η2(λi)τ0(λi)R(λi)d.测量叠加光谱区的混合光谱信号I1+2(λi):I1+2(λi)＝I1(λj)+I2(λi)e.从叠加光谱信号I1+2(λi)中减去I2(λi)，就得到了长波一级光谱信号I1(λj):I1(λj)＝I1+2(λi)-γ2/1(λi)I1(λi)这就完成了光栅光谱仪器叠加二级光谱的分离，叠加其它高级次光谱可按上述步骤进行分离。