[发明专利]晶片绝缘层内连线的制造方法与结构无效
申请号: | 200410011590.4 | 申请日: | 2004-12-21 |
公开(公告)号: | CN1797708A | 公开(公告)日: | 2006-07-05 |
发明(设计)人: | 林国世;邱素萍 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/768;H01L23/525 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种晶片绝缘层内连线的制造方法。先提供一晶片,此晶片上已形成有多条导线,且导线上覆盖有绝缘层。然后,在绝缘层中形成两孔洞,以分别暴露出其中两条导线。接着,在孔洞中填入第一导电层,以形成两标记图案,并于晶片上形成掩模,共形的覆盖住绝缘层以及上述的两标记图案。之后,至少移除两标记图案上以及两标记图案之间的掩模以形成沟渠,以暴露出两标记图案以及绝缘层。然后,于掩模上形成第二导电层,覆盖住被暴露出的两标记图案以及绝缘层。之后,移除掩模,并同时剥除掩模上方的第二导电层。 | ||
搜索关键词: | 晶片 绝缘 连线 制造 方法 结构 | ||
【主权项】:
1.一种晶片绝缘层内连线的制造方法,包括:提供一晶片,该晶片上已形成有多条导线,且该些导线上覆盖有一绝缘层;于该绝缘层中形成两孔洞,以分别暴露出该些导线的其中两导线;于该些孔洞中填入一第一导电层,以形成两标记图案;于该晶片上形成一掩模,共形的覆盖住该绝缘层以及该些标记图案;至少移除该些标记图案上以及该些标记图案之间的该掩模以形成一沟渠,暴露出该些标记图案以及该绝缘层;于该掩模上形成一第二导电层,覆盖住被暴露出的该些标记图案以及该绝缘层;以及移除该掩模,并同时剥除该掩模上方的该第二导电层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410011590.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:超难燃性的立体结构不织布薄片
- 下一篇:板间通信通道的管理方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造