[发明专利]测试存储模块的装置有效
| 申请号： | 200410011986.9 | 申请日： | 2004-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN1601480A | 公开（公告）日： | 2005-03-30 |
| 发明（设计）人： | C·斯托肯;M·B·索姆梅 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G11C29/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;梁永 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于测试适合与母板(10)进行电信号交换的存储模块(2)的装置(1)，包括：适用于检测该模块至少一半导体芯片(26a－26m)该操作状态的装置(8a－8k)，且该装置包括第一组信号线路(8a－8k)，具有存储装置(32)的微处理器(3)，以用于储存该操作状态，且该微控制器(3)系电连接至该信号线路，一时钟产生器适用于产生操作时钟，而该时钟产生器系电连接至该微控制器，以及信号连接(13)适用于将用于控制存取的信号传达至在该电路板配置以及该微控制器的间的该存储模块(2)，并且适用于将一用于启始检测该操作状态的程序的信号传达至该微控制器。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 存储 模块 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试一存储模块(2)的装置，而该存储模块(2)系具有一可插拔电路板(28)以及施加于该电路板的上的至少二半导体芯片(26a-26m)，每一半导体芯片(26a-26m)的操作状态系被储存于该分别的半导体芯片的上，并且，该存储模块(2)系适合于与具有一处理器为基础数据处理装置的一电路板配置(10)经由该信号总线(25)以及该芯片组(11)进行电信号交换，其中，该处理器为基础数据处理装置系包括一处理器(17)，一存储装置(18)，一时钟产生器(20)与一信号总线(25)，以及一芯片组(11)，该装置系包括：-一适用于检测至少一半导体芯片(26a-26m)的该操作状态的装置(8a-8k)，且该装置(8a-8k)系包括一第一组信号线路(8a-8k)；-一微处理器(3)，其系具有一存储装置(32)，以用于储存该操作状态，而该微控制器(3)系电连接至该第一组信号线路(8a-8k)；-一时钟产生器(5)，其系适用于产生一操作时钟，而该时钟产生器系电连接至该微控制器(3)；以及-一信号连接(13)，其系适用于将一用于控制存取的信号传达至在该电路板配置(10)以及该微控制器(3)的间的该存储模块(2)，以及系适用于将一用于启始检测该操作状态的一程序的信号传达至该微控制器(3)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于因芬尼昂技术股份公司，未经因芬尼昂技术股份公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410011986.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：敞开撑杆的安装构造
- 下一篇：线圈形成装置以及线圈形成方法
