[发明专利]光电性能综合测试装置无效
| 申请号： | 200410014325.1 | 申请日： | 2004-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN1564005A | 公开（公告）日： | 2005-01-12 |
| 发明（设计）人： | 李康;孙岳明;马春光;袁春伟 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;G01M11/00;G01N21/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人： | 沈廉 |
| 地址： | 21009*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 光电性能综合测试装置是一种测量光电转换材料和器件的光电性能的装置，该装置中氙灯光源(1)作为模拟太阳光源，光栅单色仪(3)与氙灯光源(1)间以光纤导光束(21)相连，光栅单色仪(3)与测试暗箱(5)以光纤导光束(22)相连；测试暗箱(5)中设有光电池(51)、光度计传感器(52)，光电池(51)的输出端接电压/电流表(4)，光度计传感器(52)的输出端接光度计主机(7)，光度计主机(7)、电压/电流表(4)的输出端通过数据采集接口与计算机(6)相接，原位测量照射在光电池(51)上的光强度。在测试暗箱(5)中设有测试平台(53)，在测试平台(53)上设有光电池(51)、光度计传感器(52)，光度计传感器(52)置于测试暗箱(5)中光电池(51)的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 性能 综合测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种光电性能综合测试装置，包括光源、样品室、检测部分、控制部分，其特征在于该装置中氙灯光源(1)作为模拟太阳光源，光栅单色仪(3)与氙灯光源(1)间以光纤导光束(21)相连，光栅单色仪(3)与测试暗箱(5)以光纤导光束(22)相连；测试暗箱(5)中设有光电池(51)、光度计传感器(52)，光电池(51)的输出端接电压/电流表(4)，光度计传感器(52)的输出端接光度计主机(7)，光度计主机(7)、电压/电流表(4)的输出端通过数据采集接口与计算机(6)相接，原位测量照射在光电池(51)上的光强度。
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