[发明专利]一种基于紫外光直写技术制作波导布拉格光栅的方法无效
申请号: | 200410015772.9 | 申请日: | 2004-01-14 |
公开(公告)号: | CN1558260A | 公开(公告)日: | 2004-12-29 |
发明(设计)人: | 吴亚明;李明;崔丽萍;李四华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G02B6/34 | 分类号: | G02B6/34;G02B6/10;G03F7/20;G03F7/00;H04B10/12 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
地址: | 200050*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于紫外光直写技术制作波导布拉格光栅的方法,其特征在于采用掺杂锗的二氧化硅基片,利用集成电路工艺在SiO2基片上镀制一层掩模薄膜,并进行光刻、腐蚀工艺制作出波导布拉格光栅的掩模图形,再利用紫外光源在二氧化硅基片表面上照射,使得二氧化硅基片的掺锗的波导芯层发生光学折射率变化,从而制作出波导布拉格光栅。用该方法制作布拉格光栅不仅简单易行,而且可以制作多种结构、多种参数的波导布拉格光栅,并可实现波导光栅的进一步集成,从而可降低成本,扩大波导光栅的应用范围,提高波导光栅的生产效率和成品率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 紫外光 技术 制作 波导 布拉格 光栅 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制作波导布拉格光栅的方法,其特征在于:在掺锗的二氧化硅基片的表面镀制一层薄膜,利用光刻、腐蚀工艺制作出欲紫外写入的布拉格光栅掩模图形,然后利用紫外光照射,使得二氧化硅基片的掺锗的波导芯层发生光学折射率变化,由此制作出波导布拉格光栅。
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