[发明专利]一种高精度的旋光角测量装置和测量方法无效
| 申请号： | 200410016007.9 | 申请日： | 2004-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN1558212A | 公开（公告）日： | 2004-12-29 |
| 发明（设计）人： | 潘雪丰;陶卫东;邢晓正 | 申请（专利权）人： | 宁波大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 宁波诚源专利事务所有限公司 | 代理人： | 程晓明 |
| 地址： | 315211浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度的旋光角测量装置，包括一个光源，该光源发出一束平行的入射光束穿过一个斩波器，一个分光元件将穿过斩波器的入射光束分束成为测量光束和参考光束，测量光束依次穿过起偏器、样品盒、检偏器后进入第一光电探测元件，检偏器设置有旋转机构，旋转机构能够通过计算机控制带动检偏器旋转，参考光束进入第二光探测元件，第一光探测元件产生的测量信号和第二光探测元件的参考信号被输入除法器相除后输入锁相放大器，通过计算机用拟合法得到测量信号的消光点，只要测出未放入待测样品前的消光点所对应的相位角度值和放入待测样品后的消光点所对应的相位角度值就能够非常容易地获得需要测量的待测样品的旋光角度值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 旋光角 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种高精度的旋光角测量装置，包括一个光源，该光源发出一束入射光束，所述的入射光束为平行光束，其特征在于所述的入射光束穿过一个斩波器，一个分光元件将穿过所述的斩波器的入射光束分束成为测量光束和参考光束，所述的测量光束依次穿过起偏器、样品盒、检偏器后进入第一光电探测元件，所述的检偏器设置有旋转机构，所述的旋转机构通过一计算机控制带动所述的检偏器旋转，所述的参考光束进入第二光探测元件，所述的第一光探测元件产生的测量信号和所述的第二光探测元件的参考信号被输入一除法器相除，所述的除法器的输出信号输入一锁相放大器后通过RS232接口与所述的计算机相连，并通过所述的计算机用拟合法得到测量信号的消光点。
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