[发明专利]玻璃基质微分析芯片的低温封接方法有效

专利信息
申请号: 200410016216.3 申请日: 2004-02-09
公开(公告)号: CN1654394A 公开(公告)日: 2005-08-17
发明(设计)人: 方群;贾志舰;方肇伦 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C03C27/00 分类号: C03C27/00;C03C27/06
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 张法高;盛辉地
地址: 310027*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种玻璃基质芯片低温封接的方法,其特征在于,在玻璃基质微分析芯片基片的封接面表面存有水化层的条件下,在低温(40-200℃范围)或者室温(0-40℃范围)的环境内,通过低温加热或简单放置的方法,完成玻璃基质微分析芯片的封接。本发明的优点在于,工艺简单易行,可以在普通实验室条件下进行,封接在低温或室温条件下完成,成功率95%以上,性能满足常规的电泳分离实验的要求。
搜索关键词: 玻璃 基质 微分 芯片 低温 方法
【主权项】:
1、一种玻璃基质微分析芯片低温封接的方法,其步骤是:●采用清洗液对芯片的基片和盖片进行清洗;●对芯片基片和盖片的封接面表面在处理液体中进行浸泡或冲洗处理,经过一定时间的浸泡或冲洗,芯片基片和盖片的封接面表面形成水化层;●将处理后的封接面表面带有水化层的基片和盖片的封接面叠加贴合,通过低温加热的方法封接,贴合后的芯片在温度在40-200℃环境下,加热时间5-30分钟,或简单放置的方法封接,在室温0-40℃范围环境下,放置时间为3-24小时。
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