[发明专利]高导电性、膨胀系数可控制的铜基合金及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200410021333.9 申请日: 2004-03-04
公开(公告)号: CN1664136A 公开(公告)日: 2005-09-07
发明(设计)人: 王继杰;刘沿东;左良;连法增;郝士明 申请(专利权)人: 东北大学
主分类号: C22C9/01 分类号: C22C9/01;C22C9/04
代理公司: 沈阳东大专利代理有限公司 代理人: 刘晓岚
地址: 110004辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 高导电性、膨胀系数可控制的铜基合金及其制造方法,属于热加工或冷加工改变有色金属或合金物理结构的技术领域;合金成分为,Cu-Al-Mn合金的原子百分数配比为Al:10~25at%,Mn:5~15at%的铜基合金,Cu-Zn-Al合金的原子百分数配比为Zn:10~30at%,Al:5~20at%的铜基合金;其生产方法为:在800~900℃温度下对配制的母相合金板材热轧到要求的厚度;在600~900℃区间中的一个温度值固溶处理、淬火和在室温下按照不同总压延率冷轧或是90°交叉冷轧三个重要环节组成;制得了导电率为15~30%IACS,在-50℃~150℃温度区间内膨胀系数可在-150×10-6/K~300×10-6/K区间内确认的高导电性、膨胀系数可控制的铜基合金。
搜索关键词: 导电性 膨胀系数 控制 合金 及其 制造 方法
【主权项】:
1.高导电性、膨胀系数可控制的铜基合金及其制造方法,其特征在于设计了两种具有热弹性马氏体可逆相变的铜基合金;其合金成份为:Cu-Al-Mn合金原子百分数配比Al:10~25at.%,Mn:5~15at.%,Cu为余量;Cu-Zn-Al合金原子百分数配比Zn:10~30at.%,Al:5~20at.%,Cu为余量。
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