[发明专利]一种恒定磁场反塞曼效应原子吸收分析的方法及其装置有效
| 申请号： | 200410026878.9 | 申请日： | 2004-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN1563948A | 公开（公告）日： | 2005-01-12 |
| 发明（设计）人： | 陈江韩;何华焜;何嘉耀;张冠文;杨啸涛 | 申请（专利权）人： | 广东省测试分析研究所 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33 |
| 代理公司： | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人： | 禹小明 |
| 地址： | 510070广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明是一种原子吸收分析的方法及装置，是把光束通过外加磁场的原子化器、单色器及偏振光分离器，得到分析光束和参比光束，再同时分别进入两个光检测器对两种光束进行强度检测、数字运算，得到原子吸收吸光度值。该装置是由光源、原子化器、恒定磁场、单色器、偏振光分离器、分别接受分析光束和参比光束的光电传感器、对数差处理装置按光束传播和电信号产生、传输、处理的路径依次设置组成。能大幅度降低光源强度涨落对原子吸收信号的影响，实时、快速进行样品光束和参比光束的对数差处理，获得更为稳定准确的原子吸收信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 恒定 磁场 反塞曼 效应 原子 吸收 分析 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种恒定磁场反塞曼效应原子吸收分析的方法，是把光束通过外加磁场的原子化器、单色器及偏振光分离器，得到分析光束和参比光束，再通过光检测器对两种光束进行强度检测、数字运算，得到原子吸收吸光度值，其特征在于所述分析光束与参比光束同时分别进入两个光检测器。
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