[发明专利]光纤型隔离器的测试装置和方法无效
| 申请号： | 200410027299.6 | 申请日： | 2004-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN1702441A | 公开（公告）日： | 2005-11-30 |
| 发明（设计）人： | 陈贵明;王伟 | 申请（专利权）人： | 昂纳信息技术（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明光纤型隔离器在测试时根据光路可逆原理，让光源发射的光由尾纤一端入射(反向通光)，经过45度偏振片和法拉第旋光片，后借由0度偏振片射出，通过变换磁场进行插损和隔离度的测量。其中变换磁场方向可以分别使用两个磁管，将磁场方向相反使用即可；也可以使用电磁场来控制磁场方向，这样将会更加方便。本发明的测试方法不仅准确的测试出产品的性能，而且大大的简化了测试繁琐程度，提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 隔离器 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一光纤型隔离器的测试方法，包括a)让光源发射的光由尾纤一端入射，经过偏振控制器、光纤端和隔离器芯、以及带磁管的法兰盘，光功率计接收光束；b)测试光纤型隔离器的插入损耗时，带有反向磁场的法兰盘和功率计的光探头连接，通过光功率计测得数据得出插入损耗参数；c)而测试隔离度时，对光隔离器施加正向磁场的法兰盘，这时对法拉第旋光片施加正向磁场，通过光功率计测得数据得出隔离度参数。
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