[发明专利]用于预烧测试的存储器装置以及方法有效
| 申请号： | 200410028640.X | 申请日： | 2004-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN1664959A | 公开（公告）日： | 2005-09-07 |
| 发明（设计）人： | 周敏忠 | 申请（专利权）人： | 晶豪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 台湾省新竹科学工*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用于预烧测试的存储器装置以及方法。此存储器装置具有多个次阵列字符线漏电流限制单元以及多个单一字符线漏电流限制单元。此存储器装置以一预定字符线电流值限制流经每一字符线的电流。在预烧测试中，字符线驱动器的输出端处于高阻抗状态。位元线加压电压经由一正常读写路径加压在一列存储器之上。在预烧测试模式，偶数字符线以及奇数字符线分群且分别由字符线加压电压以交替切换的方式加在偶数字符线以及奇数字符线之上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 存储器 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于预烧测试的存储器装置，至少包含：一存储器阵列；多个字符线，其中每个字符线连接至该存储器阵列中的一行；以及一漏电流限制单元，经由该多个字符线连接至该存储器阵列；其中当预烧测试时，该漏电流限制单元以一预定字符线电流值限制流经每一字符线的电流，且一字符线加压电压经由该漏电流限制单元提供予该存储器阵列中的每一行存储器，并以该字符线加压电压对该每一行存储器进行加压，其中该每一行存储器连接于一字符线。
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