[发明专利]存储器模块的测试方法及执行该方法的设备无效

专利信息
申请号: 200410028781.1 申请日: 2004-03-18
公开(公告)号: CN1532843A 公开(公告)日: 2004-09-29
发明(设计)人: 彼得·迈尔 申请(专利权)人: 印芬龙科技股份有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 联邦德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 存储器模块的测试方法及用于执行该方法的设备,本发明提供了一种用于测试存储器模块(101)的设备,该设备包括具有至少一个数据锁存器(107)的测试器(106);至少一个数据线(108),经过该数据线将要测试的存储器模块(101)的存储器数据流(204)提供给所述测试器(106);以及时钟线(110),用于将同步信号提供给数据锁存器(107),要测试的存储器模块(101)具有至少一个存储器时钟连接单元(103);以及将输出的同步信号经时钟线(110)提供给测试器(106)的至少一个数据锁存器(107)。利用被读取的存储器数据流(204)测试要测试的存储器模块(101),并且按照与内部存储器时钟(102)同步的方式对存储器数据流(204)进行采样。
搜索关键词: 存储器 模块 测试 方法 执行 设备
【主权项】:
1.一种用于测试存储器模块(101)的设备,包括:a)具有至少一个数据锁存器(107)的测试器(106);b)至少一个数据线(108),经过该数据线将要测试的存储器模块(101)的存储器数据流(204)提供给所述测试器(106),在所述数据锁存器(107)中,将提供的存储器数据流(204)与测试(106)中提供的测试数据流进行比较;c)时钟线(110),用于将同步信号提供给数据锁存器(107);其特征在于:d)要测试的存储器模块(101)具有至少一个存储器时钟连接单元(103),所述存储器时钟连接单元输出作为同步信号的存储器模块(101)的内部存储器时钟(102);以及e)将输出的同步信号经时钟线(110)提供给测试(106)的至少一个数据锁存器(107),利用读出的存储器数据流(204)测试要测试的存储器模块(101),并且按照与内部存储器时钟(102)同步的方式对存储器数据流(204)进行采样。
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