[发明专利]具有间隙结构的高压静电放电保护装置有效
申请号: | 200410031110.0 | 申请日: | 2004-04-06 |
公开(公告)号: | CN1681122A | 公开(公告)日: | 2005-10-12 |
发明(设计)人: | 林耿立;周业宁;柯明道 | 申请(专利权)人: | 世界先进积体电路股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/00 | 分类号: | H01L27/00;H01L23/60 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王一斌 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种具有间隙结构的高压静电放电保护装置,运用于横向扩散金氧半场效晶体管(LDMOS)。本发明利用LDMOS既有的结构,额外加上一间隙结构,用以分隔扩散区与场氧化区。当LDMOS的一寄生的硅控整流器未导通时,使ESD电流分散于其它放电路径,用以避免ESD电流过于集中于某一放电路径,进而造成元件的损坏。 | ||
搜索关键词: | 具有 间隙 结构 高压 静电 放电 保护装置 | ||
【主权项】:
1.一种具有间隙结构的高压静电放电保护装置,其特征在于所述静电放电保护装置包括:一第一导电型基底;一第二导电型井区,形成于该基底中;一第二导电型第一扩散区,形成于该基底中;一闸极,用以控制该第二导电型第一扩散区与该井区的电性连接,该闸极、该第二导电型第一扩散区与该井区构成一场效晶体管;一第三导电型第一扩散区,形成于该井区中;一场氧化区,形成于该井区中,位于该闸极与该第三导电型第一扩散区之间;以及一间隙,形成于该井区中,位于该场氧化区与该第三导电型第一扩散区之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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