[发明专利]相对于支撑台定位基片的方法与设备有效
申请号: | 200410031211.8 | 申请日: | 2004-02-20 |
公开(公告)号: | CN1531052A | 公开(公告)日: | 2004-09-22 |
发明(设计)人: | S·栗太;R·库斯勒 | 申请(专利权)人: | 应用材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种对准装置,包括:(1)第一推块,其适于接触支撑于支撑台上的基片的边缘,并适于沿第一平移路径横向平移;(2)第二推块,其适于接触所述基片的所述边缘并适于沿第二平移路径横向平移,所述第二平移路径与所述第一平移路径成一定角度并与所述第一平移路径相交;(3)一框架,所述第一和第二推块可移动地连接于其上,所述框架适于将所述第一和第二推块保持在所述基片的所述边缘的高度上;(4)第一偏置元件,其连接到所述第一推块与所述框架之间并适于将所述第一推块压靠在所述基片的所述边缘上;(5)第二偏置元件,其连接到所述第二推块与所述框架之间并适合独立于所述第一推块的偏压作用而将所述第二推块压靠在所述基片的所述边缘上。本发明还提供了其它方式。 | ||
搜索关键词: | 相对于 支撑 定位 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种对准装置,其适于横向推动支撑于支撑台上的基片,以使所述基片相对于所述支撑台滑动,所述对准装置包括:第一推块,所述第一推近器适于接触支撑于所述支撑台上的基片的一个边缘,并适于沿第一平移路径横向平移;第二推块,所述第二推块适于接触所述基片的所述边缘并适于沿第二平移路径横向平移,所述第二平移路径与所述第一平移路径成一定角度并在一路径交接点与所述第一平移路径相交;一个框架,所述第一和第二推块可移动地连接于其上,所述框架适于将所述第一和第二推块保持在支撑于所述支撑台上的所述基片的所述边缘的高度上;第一偏置元件,其连接在所述第一推块与所述框架之间并适于将所述第一推块压靠在所述基片的所述边缘上;第二偏置元件,其连接在所述第二推块与所述框架之间并适合独立于所述第一推块的偏压作用而将所述第二推块压靠在所述基片的所述边缘上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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