[发明专利]用于产品密度测量的微波测量装置无效
| 申请号： | 200410031287.0 | 申请日： | 2004-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN1542437A | 公开（公告）日： | 2004-11-03 |
| 发明（设计）人： | 斯蒂芬·彼得斯;瑞恩哈德·克内歇尔;沃尔夫冈·托特;克拉斯·德舍尔 | 申请（专利权）人： | 特鲁菲舍尔股份有限公司及两合公司 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李勇 |
| 地址： | 联邦德国门*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于通过微波测量产品密度的测量装置。该测量装置包括一个第一微波谐振器(1)，在操作中，微波从其中进入生产区域(12)，还涉及一种用于对影响第一微波谐振器(1)测量信号的环境影响和扰动变量进行补偿的装置。根据本发明，补偿装置包含一个第二微波谐振器(2)，它朝向与微波辐射有关的生产区域(12)被屏蔽。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 产品 密度 测量 微波 装置 | ||
【主权项】：
1.使用具有一个第一微波谐振器(1)的微波测量装置，在操作中，微波从所述第一微波谐振器(1)进入生产区域(12)，以及一种对环境影响和扰动变量、尤其是温度，在测量信号上进行补偿的装置，其中，所述补偿装置包含一个第二微波谐振器(2)，它朝向与微波辐射有关的生产区域(12)被屏蔽，用于测量除布置在生产区域内的产品(9)的含水量外的材料特性，尤其是密度或其它介电性能。
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