[发明专利]校验和写入方法与校验和检验设备有效
| 申请号： | 200410031451.8 | 申请日： | 2004-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN1525327A | 公开（公告）日： | 2004-09-01 |
| 发明（设计）人： | 金镇宪 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种更方便的校验和写入方法和校验和检验设备。该方法包括：通过从存储器读取数值并对所读出的数值求和来计算第一校验和；通过从第一校验和中减去存储器的预定区中所写入的数值来计算第一模式校验和；如果第一模式校验和不满足预定的条件则把第二校验和初始化为零；通过把第二校验和反向并把反向的第二校验和加到第一模式校验和上来计算第二模式校验和；如果第二模式校验和等于第二校验和，则在存储器的预定区内写入反向的第二校验和。 | ||
| 搜索关键词： | 校验 写入 方法 检验 设备 | ||
【主权项】：
1.一种在存储器中计算和写入校验和的方法，包括：通过从存储器中读出数值并对所读出的数值求和来计算第一校验和；通过从第一校验和中减去写在存储器的预定区域中的值来计算第一模式校验和；如果第一模式校验和不满足预定条件则将第二校验和初始化为零；通过把第二校验和反向并把所反向的第二校验和加到第一模式校验和上来计算第二模式校验和；如果第二模式校验和等于第二校验和，则在存储器的预定区域中写入反向的第二校验和数值。
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