[发明专利]用于检测多坐标测量仪中探头元件位置的装置有效

专利信息
申请号: 200410031710.7 申请日: 2004-03-24
公开(公告)号: CN1532521A 公开(公告)日: 2004-09-29
发明(设计)人: 格奥尔格·米斯 申请(专利权)人: 克林格恩贝格有限公司
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 谷慧敏;钟强
地址: 联邦德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 公开了一种用于直接检测探头元件(2)在多坐标测量仪中的空间位置的装置(1),带有由与测量仪的坐标轴(X,Y或Z)对应的至少第一标准件(4)和第二标准件(24)组成的参照系。第一标准件(4)为带有直线栅格设置(7)的扁平标准件。第二标准件(24)可相对于第一标准件(4)无接触地且借助于十字滑架(5)二维移动。具有第一位置测量系统(10),用于参照第一标准件(4)确定第二标准件(24)的空间位置,还具有第二位置测量系统(20),用于参照第二标准件(24)确定携带3D-探头系统的滑架(14)的空间位置。该装置(1)在对应的多坐标测量仪中构成从第一标准件(4)到探头元件(2)尖端的连续测量链。该装置直接提供考虑到所有导向误差的测量结果,而无需进行任何轨迹校正。
搜索关键词: 用于 检测 坐标 测量仪 探头 元件 位置 装置
【主权项】:
1.用于直接检测探头元件在多坐标测量仪中的空间位置的装置,带有由与测量仪的坐标轴对应的至少第一和第二标准件组成的参照系,其特征在于,第一标准件(4)为带有具有直线栅格设置(7)的主面(13)的扁平标准件,直线栅格设置(7)至少具有一个二维直线栅格(7``);第二标准件(24)为可相对于第一标准件(4)无接触且二维移动的纵向延伸的标准件,其最好与主面(13)垂直设置;以及具有第一位置测量系统(10),用于参照第一标准件(4)确定第二标准件(24)的空间位置。
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