[发明专利]实现正相位对比的相位环无效
| 申请号： | 200410031776.6 | 申请日： | 1998-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN1534324A | 公开（公告）日： | 2004-10-06 |
| 发明（设计）人： | S·阿特－内德韦德科;C·贡克尔 | 申请（专利权）人： | 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/14 | 分类号： | G02B21/14 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王忠忠 |
| 地址： | 联邦德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及由移相的薄层系统组成的一种相位环，此薄层系统在粘结系统的情况下具有一种构造：(第一)衬底－Ag－nH－粘结剂－(第二)衬底，或具有一种构造：(第一)衬底－n1－Ag－n2－粘结剂－(第二)衬底，而在未粘接系统的情况下具有一种构造：衬底－Ag－nH－空气。以nH、n1或n2表示了一个介电层的各自的折射率。可以有针对性地调定正相位对比的相移。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 相位 对比 | ||
【主权项】：
1.用于实现一种正相位对比的相位环，其特征在于，相位环由具有构造：第一衬底-n1-Ag-n2-粘结剂-第二衬底的移相薄层系统组成，在此n1是那个生成移相λ的层的折射率，而n2 是那个保护银层的折射率，并且在此介于两个衬底之间的间隙是粘结剂填满的，使得也在n2层和第二衬底之间保留一个贯通的粘结剂网格。
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