[发明专利]半导体集成电路器件无效

专利信息
申请号: 200410031822.2 申请日: 2004-03-30
公开(公告)号: CN1536666A 公开(公告)日: 2004-10-13
发明(设计)人: 近藤雅仁;井上晃一 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H03K17/687;H03K17/24;G05F1/56
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈瑞丰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 传统的半导体集成电路器件中,用于防止回流电流的装置具有高导通状态电阻,这使得在正常操作中不可能减少电压损失。本发明半导体集成电路器件具有第一MOS晶体管、设置于第一MOS晶体管与电源端子之间的第二MOS晶体管,以及在正常操作中将第二MOS晶体管的栅极保持在预定电位(最好是地电位)以及当很可能出现回流电流时使第二MOS晶体管截止的装置。在正常操作中,这有助于防止回流电流,同时减少电压损失。
搜索关键词: 半导体 集成电路 器件
【主权项】:
1.一种半导体集成电路器件,包括:第一MOS晶体管,具有第一栅极、第一背栅、第一传导区以及第二传导区,所述第一MOS晶体管的第一背栅和第一传导区电连接;第二MOS晶体管,具有第二栅极、第二背栅、第三传导区以及第四传导区,所述第二MOS晶体管的第二背栅及第三传导区与所述第一背栅及第一传导区电连接,所述第二MOS晶体管在其第四传导区接收第一直流电压;比较器,使所述第一直流电压与从所述第二传导区输出的第二直流电压进行比较;以及开关,用于根据所述比较器的输出进行操作,以便在所述第一直流电压高于所述第二直流电压时,将第二栅极与预定电位相连,并在所述第一直流电压低于所述第二直流电压时,将第二栅极与所述第三传导区或第二传导区相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗姆股份有限公司,未经罗姆股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410031822.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top